光学膜厚仪PCB抄板及芯片解密实例分析

深圳世纪芯 PCB抄板 等反向技术研发中心一直致力于热分析的前... [详细]

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　　该款光学膜厚仪是专业从事PCB抄板及IC芯片解密等反向研发的深圳世纪芯在原样机的基础上二次开发而研制的，制作出的样机较原机有过之而无不及，同时可根据客户的个性化要求做出相关设计及功能参数修改。
　　适用样品：光学镀膜(如SiO2, NOx, ITO, ZnO, CuO 等on玻璃、压克力、PET and Silicon wafer)、GaN on Sapphire、彩色滤光片、Solar cell、偏光片等 。样品形状可以使平滑、粗糙、平面和曲面的，可以根据需要选择合适的样品台。
　　检测功能：薄膜厚度、穿透率、反射率、色度

　　技术参数
　　检测功能：薄膜厚度、穿透率、反射率、色度
　　波长范围：380-1000nm
　　膜厚精度：1nm
　　厚度范围：300-400,000 Angstrom (依样品不同而异)
　　检测速度：1-3 sec
　　检测平台：10cm×10cm手动式XY滑台
　　光源：卤素灯380-1700nm
　　适用样品：光学镀膜(如SiO2, NOx, ITO, ZnO, CuO 等on玻璃、压克力、PET and Silicon wafer)、GaN on Sapphire、彩色滤光片、Solar cell、偏光片等 。样品形状可以使平滑、粗糙、平面和曲面的，可以根据需要选择合适的样品台。
　　深圳世纪芯长期从事PCB抄板、芯片解密、电路板克隆、样机制作及电子设备仿制等反向技术研发，是目前国内最大最具权威性的专业反向技术研发机构，欢迎有相关需求的朋友来电咨询及洽谈业务！