最新IC测试器PCB抄板实例分析

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        数字IC测试器主要用于对各类数字IC（数字IC就是传递、加工、处理数字信号的IC）进行多种参数测定，方便对器件进行特性分析、查找产品电路故障等等。世纪芯在数字IC测试器领域已经取得多个项目成果，在此我们不便将所有产品信息详细列出，以下仅以某数字IC测试器为例。该测试器可测量约1800种数字IC，在数字电路设计与分析中被广泛应用。
   
　　数字IC测试器特性：
　　•Loop 测试
　　•自动搜寻 IC 编号功能
　　•开机自我侦测诊断功能
　　•过载保护功能
　　•可量测之 IC 种类超过 1800 种
　　•54/74 系列 TTL 及高速 CMOS
　　•4000 及 4500 系列 CMOS
    •最大可测 Pin 数 : 28 Pin

　　数字IC测试器技术指标：
       测试范围 54/74 系列 TTL 及高速CMOS
       4000 及 4500 系列CMOS
       55 及 75 系列 TTL
       量测种类 约 1800 种
       测试电压 5V DC
       测试时间 高测试速度，平均0.8 秒可完成一个 IC
       使用电源 交流 110V/220V +10%,50/60Hz
       尺寸及重量 335(宽) x 105(高)x 300(长) mm, 约 1.5 公斤
        针对上述数字IC测试器等多种参数测试仪器，世纪芯长期提供产品全套仿制克隆及二次开发服务，不仅可以完整地为客户克隆出整套产品，保证与原产品在性能特征与功能构成上保持完全一致，还可以根据客户的个性化需求对样机进行二次开发，修改其中功能模块构成与设计，实现产品的更新升级。