充放电测试仪芯片解密实例简介

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　　充放电测试仪是我们芯片解密领域的领军企业世纪芯在对原样机进行芯片解密而研制的，它的克隆成功再一次证明了世纪芯在芯片解密的超强实力。

　　输入电源 AC 220 V ±10% / 50 Hz
　　电流输出范围 ±10A
　　电压测量范围 充电: 0~60V； 放电: 2.5V~60V
　　输入阻抗 ≥1MΩ
　　功率 4800W
　　电流测量精度 ±（0.1% of reading + 0.1% of range）
　　电压测量精度 ±（0.1% of reading + 0.05% of range）
　　采样周期 1秒
　　电流/电压/时间分辨率 0.6mA/3.6mV/1s；AD : 16bit ;DA:14bit
　　循环测量范围 1-9999次
　　工步时间范围 (1s~18小时）/工步
　　数据记录条件 时间Δt：（1~60000S）
　　电压ΔV：（60mV - 60V)
　　电流ΔI：（10mA-10A)
　　充放电模式 恒流、恒压充电、恒流放电
　　掉电数据保护 有
　　通道控制模式 独立
　　上位机通讯 TCP/IP
　　数据输出方式 EXCEL、图表
　　接口 网口
　　温度 测量范围：-25℃~125℃，分辨率：0.1℃，
　　精度：+0.5℃(-10~85℃之间)
　　电池放置方式 通用夹具
　　每单元通道数 8
　　体积 24U机箱，1256.8*606.5*606（mm）
　　以上便是我们世纪芯上万成功案例之一。世纪芯在芯片解密领域绝对的行业领袖，丰富的经验，精湛的技术，以及赞誉不断的信誉，让世纪芯成为广大客户首选合作伙伴。