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深圳pcb抄板示波器测量系统中有效位指标ENOB作用分析

2012年07月16日08:29

    有趣的是,和常识相反,一些示波器在不使用最高采样率时可以提供更高的测量精度。这是由于有些示波器为了获得高采样率可能需要多片ADC进行拼接,这会造成额外的拼接误差从而造成信号失真,并且还会增加额外的高频噪声。FLASH型的ADC用一组比较器对输入信号进行并行采样,每个比较器对应一段电压范围。比较器的结果输出送给逻辑解码电路,每段输入电压范围会产生一个解码的输出结果。无论使用哪种ADC技术都有其局限性,比如Flash型的ADC的线性误差差一些,而流水线型ADC可能会有更多拼接带来的误差。IEEE建立了ENOB的标准用于帮助用户评估不同ADC的好坏。
    示波器厂商会对其使用的分立的ADC芯片做内部评测,同时也会评测整个示波器系统的ENOB,整个示波器系统的ENOB会比分立ADC芯片的ENOB要低。由于ADC仅为示波器系统的一部分,不能独立使用,因此整个示波器系统的ENOB指标才有意义。用户通常没有充分使用示波器的ADC的8bit分辨率。比如要充分利用8bit的垂直量程范围,用户需要放大波形以充满示波器的垂直量程范围,但这会造成观察信号更加困难,并且有可能会造成ADC的饱和等不必要的影响。因此,如果用户只使用了满量程的一半,对于8bit的ADC来说,实际使用的ADC的位数就只有7bit。除此以外,前端噪声、谐波失真、交织造成的失真也都会减小示波器的有效位数。
    对于使用者来说,用户可以衡量前端电路和ADC组合在一起后的指标,但是不太容易对各部分指标单独衡量。有很多方法可以测量示波器前端电路质量,示波器厂商通常使用底噪声和ENOB指标来评估示波器的前端和ADC电路的设计质量,但很多时候综合考虑示波器的性能比单独评估ENOB或底噪声更加有用。
    示波器在不同垂直量程和偏置下的底噪声是评估示波器测量质量的一个很好依据,这些测量结果可以告诉用户示波器的前端和ADC电路设计得有多纯净,因为示波器的底噪声会增加额外的抖动并减小设计裕量。一般情况下,示波器带宽越高,其内部噪声就越高。因为高频噪声会进入高带宽示波器内,但对于低带宽示波器来说,这些高频噪声则会被其过滤掉。电路板克隆最直接的评估示波器底噪声的方法就是输入通道不接任何东西,然后测量示波器在不同量程和偏置情况下电压的RMS值。
    IEEE定义了一种用ENOB评估ADC质量的方法。现在的数字示波器主要使用2种ADC技术:流水线型或Flash型。流水线型ADC使用2级或多级转换以获得更高的转换速率,比如Agilent的90000A系列示波器使用的20G/s采样率的ADC,其内部是由80个256M/s采样率的ADC组成以获得更高的采样率。
    ENOB指标的提出是因为当高速ADC进行数据采集时,由于噪声和失真的影响,实际ADC的信噪失真比达不达其标称位数应达到的理想性能,比如很多通信中使用的12bit的ADC在实际工作环境中有效位数只有10bit左右。那么,当选择示波器时,ENOB到底重要吗?ENOB能有效预测示波器的测量精度吗?
    在数字示波器的架构中,和测量精度有关的电路包括示波器的前端电路和采用的ADC技术。示波器的前端电路对被测信号进行调理以便后面的ADC可以正确进行采样和数字化。前端电路包括衰减器、放大器和信号分配路径。示波器的设计人员花费大量精力设计前端电路以获得平坦的频率响应、低的噪声以及期望的频响曲线。由于示波器对于ADC有特殊要求,所以示波器厂商一般都自己设计ADC芯片。开发新的前端和ADC需要大量投入,因此设计出来的ADC通常会用于多个示波器系列或多代示波器中。示波器设计团队会尽量使这些电路对被测信号的失真尽可能小,以获得最好的测量精度。

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