如何提高电路可测试性

　　开发工程师必然要在电路中使用的边界扫描组件（ IEEE-1149.1- 标准），并且要设法使相应的具体的测试引线脚可以接触（如测试数据输入 -TDI ，测试数据输出 -TDO ，测试钟频 -TCK 和测试模式选择 -TMS 以及 ggf. 测试复位）。测试工程师给组件制定一个边界扫描模型（ BSDL- 边界扫描描述语言）。此时他必须知道，有关组件支持何种边界扫描功能和指令。边界扫描测试可以诊断直至引线级的短路和断路。除此之外，如果开发工程师已作规定，可以通过边界扫描指令“ RunBIST ”来触发组件的自动测试。尤其是当电路中有许多 ASICs 和其它复杂组件时，对于这些组件并不存在惯常的测试模型，通过边界扫描组件，可以大大减少制定测试模型的费用。