世纪芯反向技术研究中心自成立以来一直专注于 PCB抄板 与设计... [详细]
决方案是将开环架构与市场上销售的采样示波器结合起来使用,如图4所示。
图 4 开环、有源源/负载牵引的测试配置
使用采样示波器可以支持相位相干的宽带测量。使用采样示波器的优点是可相干调准同时被测量的多个信号的所有频谱分量。采样示波器最多可同时采集8个信号,使得器件的测量可以容易地扩展到4个单端或2个差分端口。此外,采集单元可测量信号内的所有相关频谱分量(包括基波和多个高阶谐波),以及直流和基带响应——这对捕获器件中经常看到的记忆效应是很重要的,并最终获得代表器件实际物理性质的真实电压和电流波形。
波形设计
为提高设计效率,接下来的步骤理所当然是使用刚才描述的测试配置来构建集成式系统,以便将信号生成与波形设计软件结合起来,用于执行非线性校准、测量和分析。教科书上已经描述了特定功率放大器的理论电压和电流波形,例如Class-F和Class-J设计。波形设计则反映了设计人员如何优化其设计以实现这些理论波形的能力。完全集成式系统允许通过真实的电流和电压波形来测量非线性参数,以精确了解被测器件行为。所测得的结果有助于高效功率放大器运行模式的研究与开发以及记忆效应的高级检测。电压和电流数据的共同性支持在测量和模拟之间轻松切换,从而加快设计产品上市速度。此工作流程如图5所示。
图 5 将波形导出到EDA软件工具的工作流程图
使用者可通过一组非线性测量结果或一个非线性模型确定既定器件是否在仿真器中得到较好的模拟。这些功能使得这种方法对半导体行业非常实用,因为它可以生成特定波形来测试和研究晶体管的特殊性质,例如其knee-walk-out或电压击穿特征。实际上,该测量方法是谐波平衡或包络仿真器的实际实现,并提供了用于无缝集成任何非线性EDA(电子设计自动化)软件的功能。
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